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    如何测试的全彩LED显示屏寿命


      全彩LED显示屏具有高可靠性和长寿命的优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平,以保证LED芯片质量,为此我司在实现全色系LED产业化的同时,开发了LED芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等,以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。

      电子产品在规定的工作及环境条件下,进行的工作试验称为寿命试验,又称耐久性试验,随着LED生产技术水平的提高,产品的寿命和可靠性大为改观,LED的理论寿命为10万小时,如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断全彩LED显示屏寿命。我们根据LED器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0.3×~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件:

      1、样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯;

      2、工作电流为30mA;

      3、环境条件为室温(25℃±5℃);

      4、试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种;

      全彩LED显示屏工作电流为30mA是额定值的1.5倍,是加大电应力的寿命试验,其结果虽然不能代表真实的寿命情况,但是有很大的参考价值;寿命试验以外延片生产批为母样,随机抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片,封装成ф5单灯器件,进行为96小时寿命试验,其结果代表本生产批的所有外延片,一般认为,试验周期为1000小时或以上的称为长期寿命试验,生产工艺稳定时,1000小时的寿命试验频次较低,5000小时的寿命试验频次可更低。

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